Вестник Московского университета. Серия 1. Математика. Механика / №1 2015

О ПОЛНЫХ ТЕСТАХ ОТНОСИТЕЛЬНО ВЫТЕСНЯЮЩИХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ВХОДОВ СХЕМ (60,00 руб.)

Первый автор	Морозов
Страниц	5

60,00р

ID	356441
Аннотация	Рассматриваются неисправности входов схем. при которых выходное значение неисправной схемы определяется только исправными входами. Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна 2n—log2n+O(log2log2n), а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна 2n.
УДК	519.718

Морозов, Е.В. О ПОЛНЫХ ТЕСТАХ ОТНОСИТЕЛЬНО ВЫТЕСНЯЮЩИХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ВХОДОВ СХЕМ / Е.В. Морозов // Вестник Московского университета. Серия 1. Математика. Механика .— 2015 .— №1 .— С. 59-63 .— URL: https://rucont.ru/efd/356441 (дата обращения: 18.09.2025)

Вы уже смотрели

Геология нефти и газа №1 2021 830,00 руб

Российская газета - федеральный выпуск + Союз. Беларусь-Россия №17(9259) 2024

Российская газета - федеральный выпуск +... 48,00 руб

Российская газета - Неделя. Кыргызстан №67(7825) 2019

Российская газета - Неделя. Кыргызстан №... 27,62 руб

Журнал Сибирского федерального университ...

Профессиональная библиотека школьного библиотекаря. Серия 2 №2 2013

Профессиональная библиотека школьного би... 120,00 руб

А. Х. Аджиев 150,00 руб

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна 2n—log2n+O(log2log2n), а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна 2n.! <...>

Облако ключевых слов *

0,x2 2n i1 log2 n=0 x1 xj1 xjk xn yj+1 булевы функция отражающим важнейших шеннона

* - вычисляется автоматически


	Для выхода нажмите Esc или